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四探針?lè)阶鑳x

四探針?lè)阶鑳x

簡(jiǎn)要描述:四探針?lè)阶鑳x①檢查電源線(xiàn)是否接觸良好;
②檢查后面板上的電源開(kāi)關(guān)是否已經(jīng)打開(kāi)
③檢查保險(xiǎn)絲是否熔斷,如有必要,請(qǐng)更換保險(xiǎn)絲
如經(jīng)上述檢查無(wú)誤后,測(cè)試儀仍未正常啟動(dòng),請(qǐng)聯(lián)系本公司進(jìn)行解決。

更新時(shí)間:2024-07-18

產(chǎn)品型號(hào):BEST-300C

廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家

訪(fǎng)問(wèn)量:644

產(chǎn)品詳情
品牌北廣精儀產(chǎn)地類(lèi)別國(guó)產(chǎn)
類(lèi)型數(shù)字式電阻測(cè)試儀應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子,交通,汽車(chē),電氣

四探針?lè)阶鑳x1.2.準(zhǔn)備好被測(cè)物,鏈接好測(cè)試探頭,把測(cè)試探頭接口與主機(jī)接口相連接,并鎖定,防止松動(dòng)或接觸不良而對(duì)測(cè)試結(jié)果造成影響.

1.3.接通電源,開(kāi)啟電源開(kāi)關(guān),待儀器液晶顯示屏上顯示出廠(chǎng)家和產(chǎn)品信息后,如圖3,按“顯示"鍵進(jìn)入,

1.4.進(jìn)入測(cè)試功能界面如圖4、圖5;如測(cè)試方阻時(shí),請(qǐng)選擇液晶顯示屏又側(cè)對(duì)應(yīng) 的功能按鍵“方阻",則進(jìn)入方阻測(cè)試界面;如測(cè)試其他材料時(shí),請(qǐng)選擇“材料"則進(jìn)入材料電阻,電阻率,電導(dǎo)率測(cè)試儀界面。

1.5.設(shè)置好被測(cè)物所需之參數(shù),把被測(cè)物放于測(cè)試治具平臺(tái)上操作,測(cè)試完畢直接顯示測(cè)試數(shù)據(jù)。如配置軟件,軟件操作說(shuō)明書(shū)同安裝軟件在一起,請(qǐng)注意查看操作步驟.

四探針?lè)阶鑳x四探針雙電方阻測(cè)試步驟2.1.上述步驟中1項(xiàng),使用前期準(zhǔn)備

2.2 把被測(cè)物測(cè)試所需要之參數(shù)數(shù)據(jù)設(shè)定:

2.2.1依據(jù)不同之測(cè)試樣品,選擇被測(cè)試電流,電流設(shè)置:按方向鍵移動(dòng)光標(biāo)至“電流"功能,按“設(shè)置"鍵進(jìn)入;再按“左右"方向鍵選擇電流數(shù)據(jù),選擇完畢后按“確定"鍵進(jìn)行確認(rèn)。按照以上步驟和方法選擇電壓、長(zhǎng)度單位、探針形狀設(shè)定、溫度.

2.2.2.探針間距數(shù)據(jù)的輸入,探針間距出廠(chǎng)時(shí)已經(jīng)標(biāo)定,無(wú)需再次測(cè)量,探針頭上有詳細(xì)的探針數(shù)據(jù)資料,探針間距的設(shè)置:將光標(biāo)移動(dòng)至“探針間距"按“設(shè)置"鍵進(jìn)入,通過(guò)面板上面的“數(shù)字"按鍵輸入數(shù)據(jù)按“確定"鍵進(jìn)行確認(rèn);按照以上方法和步驟設(shè)定"厚度“,注意厚度和探針間距修正系數(shù)表已經(jīng)設(shè)置在儀器程序中,自動(dòng)修正,無(wú)需再次輸入和查詢(xún)表格。

2.3.測(cè)試探頭和測(cè)試平臺(tái)操作

選配測(cè)試平臺(tái)的將被測(cè)物放在測(cè)試平臺(tái)上,調(diào)節(jié)探頭探針與樣品良好接觸,探頭有二種,一種是探針是彈簧針型,一種是硬針而探頭內(nèi)腔有彈簧;探頭有方型和直線(xiàn)型兩種結(jié)構(gòu);調(diào)節(jié)測(cè)試平臺(tái)上的水平定位角,保證水平儀水準(zhǔn)在中心位置;放置好被測(cè)物品,后壓下探頭至被測(cè)物,帶數(shù)據(jù)穩(wěn)定后讀取.

探針(帶有彈簧及外引線(xiàn))之間或探針系統(tǒng)其他部分之

間的絕緣電照至少為10°Ω.探針排列和間距,四探針應(yīng)以

等距離直線(xiàn)排列,探針閥距及針突狀況應(yīng)符合GB/T 552 中

的規(guī)定。

R=1(R +R, )…………………………(3)R2=與(R; +R,)

計(jì)算試樣平均直徑D與平均操針間距S之比,由表3中

查出修正因子F,也可以見(jiàn)GB/T11073中規(guī)定的幾何修正因

子。 9.4計(jì)算幾何修正因子F,見(jiàn)式(4)。

對(duì)于薄層厚度小于3μm的試樣,選用針尖半徑為100

μm250μm的半球形探針或針尖率徑為50μm~125 pm平

頭探針,針尖與試樣間壓力為0.3 Nˉ0.8Ni對(duì)于薄層厚度不

小于3μ的試樣,選用針尖半徑為35μm100 pm 半球形

操針,針尖與試樣間壓力不大于 0.3 N.

Rr=V; R,/V=V/I,…… … R,=V,R,/V_=V,/I,-

雙刀雙撐電位選擇開(kāi)關(guān)。.定。歐嬌表,能指示阻值高達(dá)10°日的漏電阻,溫度針

0℃-40℃,小刻度為0.1℃。

光照、高頻、需動(dòng)、強(qiáng)電磁場(chǎng)及溫醒度等測(cè)試環(huán)境會(huì)影

響測(cè)試結(jié)果,

甲醇、99.5%,干燥氮?dú)?。測(cè)量?jī)x器探針系統(tǒng)操針為具

有45"~150°角的圓罐形破化鴨振針,針實(shí)半徑分別為35

μm~100μm.100 μm

…… … ………(5)

電壓表輸入阻抗會(huì)引入測(cè)試誤差,硅片幾何形狀,表

面粘污等會(huì)影響測(cè)試結(jié)果,

R(TD-R_xF式中:

計(jì)算每一測(cè)量位置的平均電阻R.,見(jiàn)式(3).

試劑優(yōu)級(jí)純,純水,25℃時(shí)電阻率大于2MN.cm,

s=號(hào)(二[R,(TD-瓦(7D羽yt ..

計(jì)算每一測(cè)量位置在所測(cè)溫度時(shí)的薄層電阻(可根據(jù)薄

層電阻計(jì)算出對(duì)應(yīng)的電阻率并修正到23℃,具體見(jiàn)表4)

見(jiàn)式(5).

用干凈涂題顆子或吸筆將試樣置于樣品臺(tái)上,試樣放置

的時(shí)間應(yīng)足夠長(zhǎng),到達(dá)熱平衡時(shí),試樣溫度為23 ℃±1℃.

接通電流,令其任一方向?yàn)檎?,調(diào)節(jié)電流大小見(jiàn)表1測(cè)量范圍

    電阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm

    方  阻:5×10-4~2×105 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□

    電  阻:1×10-5~2×105 Ω   ,分辨率:1×10-6~1×102 Ω

3.2  材料尺寸(由選配測(cè)試臺(tái)決定和測(cè)試方式?jīng)Q定)直    徑:A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15~130mm,   方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm,    長(zhǎng)(高)度:測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm,        測(cè)量方位: 軸向、徑向均可

3.3.  4-1/2 位數(shù)字電壓表:

    (1)量程: 20.00mV~2000mV

    (2)誤差:±0.1%讀數(shù)±2 字

24.png


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