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介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀哪個(gè)好更新時(shí)間：2025-07-04型號(hào)：GDAT-A廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：1788介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀哪個(gè)好特點(diǎn)： 1． 優(yōu)化的測(cè)試電路設(shè)計(jì)使殘值更小 2． 高頻信號(hào)采用數(shù)碼調(diào)諧器和頻率鎖定技術(shù) 3． LED 數(shù)字讀出品質(zhì)因數(shù)，手動(dòng)/自動(dòng)量程切換 4． 自動(dòng)掃描被測(cè)件諧振點(diǎn)，標(biāo)頻單鍵設(shè)置和鎖定，大大提高測(cè)試速度
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BQS-37介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀更新時(shí)間：2025-07-04型號(hào)：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：1153BQS-37介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀公式說明 .頻率對(duì)介質(zhì)損耗正公式： 本電橋額定的工作頻率f=50Hz，在實(shí)際工作頻率偏離額定頻率時(shí)可用修正式進(jìn)行修正： tg=f’·tgδ / f 式中：f 為額定工作頻率（f=50Hz） f’ 為實(shí)際工作頻率 tgδ 電橋測(cè)得損耗值 tgδ 為被測(cè)試品介質(zhì)損耗角正切的實(shí)際值 電橋在使用過程中，靈敏度
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薄膜塑料介電常數(shù)測(cè)試儀更新時(shí)間：2025-07-04型號(hào)：GDAT-A廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：1583
薄膜塑料介電常數(shù)測(cè)試儀在較高的頻率下，只要電介質(zhì)中不出現(xiàn)局部放電，電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)與電場(chǎng)強(qiáng)度無關(guān).
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國標(biāo)GBT1409介質(zhì)損耗測(cè)試儀更新時(shí)間：2025-07-04型號(hào)：GDAT-A廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：1165國標(biāo)GBT1409介質(zhì)損耗測(cè)試儀陶瓷材料的損耗 陶瓷材料的介質(zhì)損耗主要來源于電導(dǎo)損耗、松弛質(zhì)點(diǎn)的極化損耗和結(jié)構(gòu)損耗。此外，表面氣孔吸附水分、油污及灰塵等造成的表面電導(dǎo)也會(huì)引起較大的損耗。 在結(jié)構(gòu)緊密的陶瓷中，介質(zhì)損耗主要來源于玻璃相。為了改善某些陶瓷的工藝性能，往往在配方中引人此易熔物質(zhì)（如黏土），形成玻璃相，這樣就使損耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷隨黏土含量增大，介質(zhì)損耗也增大。
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涂層介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀更新時(shí)間：2025-07-04型號(hào)：GDAT-A廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：1191涂層介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀計(jì)算公式 Cx=R4× Cn / R3 R4[Ω] R3[Ω] Cn[pF] Cx[pF] tgδ=ω·R4·C4 R4[Ω] C4[F] 當(dāng)R4=10K/π tgδ=C4 當(dāng)R4=1K/π tgδ=0.1C4
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